ParticleX 全自動顆粒分析系統(tǒng)主要用于雜質(zhì)或顆粒物的綜合評估，可以自動獲取大量顆粒的微觀形貌 和成分信息，具體包括：
• 顆粒粒度分布
• 顆粒形貌分析
• 雜質(zhì)成分檢測
• 高分辨率成像（8 nm 分辨率）
ParticleX 以掃描電鏡和能譜儀為基礎(chǔ)，結(jié)合自動控制系統(tǒng)以及強大的數(shù)據(jù)庫系 統(tǒng)，可以全自動對雜質(zhì)顆粒進行快速識別、分析和分類統(tǒng)計，為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。
ParticleX 全自動顆粒分析系統(tǒng)
產(chǎn)品參數(shù)
電子顯微鏡：200,000 倍
探測器：高靈敏度四分割背散射電子探測器
燈絲材料：1,500 小時 CeB6 燈絲
分辨率：優(yōu)于 10 nm
放置環(huán)境：采用專業(yè)防震設(shè)計，可擺放于普通實驗室或辦公室、廠房
加速電壓：4.8kV-20.5kV 連續(xù)可調(diào)
抽真空時間：小于 30 秒
能譜儀：可選配能譜儀
應(yīng)用領(lǐng)域
· 全自動汽車零部件清潔度分析
ParticleX 可以監(jiān)控清潔度并識別機動車流體系統(tǒng)中的污染源可降低現(xiàn)場故障率和保修成本。用于磨損碎屑表征的自動化解決方案有助于制造商在生產(chǎn)車間實現(xiàn)清潔度和質(zhì)量控制的新標準。
· 全自動鋰電正負極雜質(zhì)分析
ParticleX 可以全自動對正負極中的鐵類雜質(zhì)顆粒進行快速識別、分析和分類統(tǒng)計， 整個過程無需人工參與。定量磁性雜質(zhì)顆粒的形態(tài)、數(shù)量和種類，以此判定是哪個生產(chǎn)環(huán)節(jié)出了問題。
· 全自動鋼鐵夾雜物分析
ParticleX 為鋼鐵中夾雜物的分析提供了便捷、高效、可重現(xiàn)的分析工具。為鋼鐵材料的研發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量控制與評級提供了便利。
· 全自動 3D 打印金屬粉末評估
粉末的尺寸、形狀和化學(xué)性能對于粉末床的行成、熔池和微觀均質(zhì)性可能會產(chǎn)生重大影響。ParticleX 可以全自動對顆粒或雜質(zhì)進行快速識別、分析和分類統(tǒng)計，為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。
復(fù)納科學(xué)儀器 (上海) 有限公司 (Phenom-China)，負責(zé)荷蘭飛納臺式掃描電鏡在中國市場的推廣和銷售，提供專業(yè)的技術(shù)支持和測試服務(wù)，飛納中國擁有專業(yè)的服務(wù)團隊，提供優(yōu)化的解決方案；飛納中國提出飛納學(xué)校 （Phenom University）的概念，為用戶提供從掃描電鏡基礎(chǔ)理論到 Level 5 應(yīng)用工程師的進階培訓(xùn)，在上海、北京、廣州設(shè)立了測試中心和售后服務(wù)中心，目前飛納在中國已經(jīng)擁有接近 1000 名用戶。
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